【推荐】 （免费）USB DAQ构建完全“即插即用”数据采集系统研讨会(南京、宁波）
美国国家仪器公司National Instruments免费讲座：[b][color=green]构建完全“即插即用”数据采集系统研讨会[/color][/b]
[color=purple]每个测试测量工程师都希望降低测试成本，但为什么中国工程师们在测量系统上花费的成本要比美国或欧洲的工程师们所花费的多得多呢？
欢迎您参加此次研讨会，与我们共同探寻问题的答案！[/color]
[b][color=purple]会议主旨：[/color][/b]
National Instruments — 基于计算机的测试测量技术的领导者，将在此次研讨会上向您展示高性能、低成本的“即插即用”数据采集系统解决方案。
[color=purple][b]会议内容：[/b][/color]
l 传感器最新标准：适用于智能传感器的IEEE 1451.4混合模式接口
l National Instruments提供的最新USB数据采集解决方案
l LabVIEW 7.1新功能： 支持TEDS（传感器电子数据表）传感器
l LabVIEW Express技术：无需编程，即可完成您的测试测量工作
l LabVIEW中的其它一些功能强大的工具：分析工具，网上发布工具，独立的可执行文件的生成等。
[color=purple][b]演示实例：[/b][/color]
l “即插即用”TEDS传感器的演示 ● USB数据采集系统的演示
2004高校巡回研讨会 — 南京站
[b][color=purple][color=purple]会议内容：[/color][/color][/b]
l NI公司简介及其院校计划
l 虚拟仪器技术的最新发展及演示：
a.LabVIEW 7 Express b.新的硬件介绍(USB数采卡,M系列数采卡,cRIO等)
l NI公司教学实验资源介绍及演示：
a.NI ELVIS(教学实验虚拟仪器套件) b.国内外院校的应用介绍
l LabVIEW 7.1控制设计与仿真专题
[color=purple][b]时间与地点安排：[/b][/color]
10/13 14:00-17:00 南京中山大厦四楼友谊厅
（南京中山路200号）
2004高校巡回研讨会 — 南京站 10/21 9：00-11：30 东南大学礼东202室(南京市四牌楼2号)
10/11 14:00-17:00 宁波大酒店会见厅
[color=purple][b]报名方式：[/b][/color]1．网上注册：登录ni.com/china/events,
2．Email至：china.events@ni.com，写明您的姓名，院系，联系地址，联系电话
3．电话报名：拨打免费咨询电话800 8203622或（021）65557838与NI上海市场部联系。
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