求教：拼片试验（patch test）和 误差分析（error estimation）

nongda

学有限元至今一直对
拼片试验（patch test）和 误差分析（error estimation）
不是很清楚
希望大家可以帮助解释一下或者介绍一些由浅入深，容易理解的讲解资料

200531035

拼片试验（patch test）主要是针对那些非协调单元而言。由于非协调性，单元在相邻边上会出现位移不连续，为了判断这种非协调性在计算结果中是否会造成较大的影响，使用拼片试验来判断非协调单元是否可以应用。当随着网格细化，非协调单元能够满足分片试验，则可以应用。
误差分析主要是指数学模型和离散化模型之间的差别。比如对于一阶线性单元，其位移误差为O(h^2),则其应变和应力的误差为O(h)。
楼主可以参看库克的教材《有限元分析的概念与应用》。

nongda

拼片试验（patch test）主要是针对那些非协调单元而言。由于非协调性，单元在相邻边上会出现位移不连续，为了判断这种非协调性在计算结果中是否会造成较大的影响，使用拼片试验来判断非协调单元是否可以应用。当随着 ...
200531035 发表于 2010-11-16 08:28

多谢ls讲解，
非协调单元是怎样的一些单元呢？
一般的二维：1阶4node，2阶9node 单元都是协调单元吧，这样子的单元就不需要做拼片试验吧。
有限元误差分析过程的基本理论是什么呢？我知道CFD限差分法中的VonNeumann。
但是有限元的误差分析比这个要复杂很多的样子

jing-qian

For linear patch test, you want to make sure the element at least has linear accuracy. That means it can recover constant strain and stress field. When you develop an element, you have to show that your element can match with some analytic solution. That's why you need patch test and error test. Otherwise, who can trust the result without verification.

nongda

4# jing-qian

ls 说得很简单明了
想了解具体的操作还有没有同样简单明了的资料推荐一下呢